在對(duì)電子器件小型化要求不斷提高的情況下，單片功能不斷增加。目前的工藝中，為保證芯片的質(zhì)量，一般都是從設(shè)計(jì)成型到大規(guī)模生產(chǎn)的過(guò)程中進(jìn)行芯片檢測(cè)betway必威。而傳統(tǒng)的芯片調(diào)試技術(shù)是在芯片功能基礎(chǔ)上增加一套以功能為導(dǎo)向的測(cè)試程序，它一般只能檢測(cè)芯片有無(wú)錯(cuò)誤或故障，無(wú)法在芯片終端上精確地定位出錯(cuò)誤，只有根據(jù)檢測(cè)人員的經(jīng)驗(yàn)來(lái)判斷，這樣就會(huì)造成芯片檢測(cè)速度慢、效率低。

　　芯片，也叫半導(dǎo)體元件產(chǎn)品，也叫微電路.微芯片.集成電路。含有集成電路的硅晶片，它非常小，通常是電腦或其它電子裝置的一部分。它的全部部件在結(jié)構(gòu)上都是一體的，使得電子元件朝著微型化、低功耗、高可靠性邁進(jìn)了一大步必威。目前，半導(dǎo)體行業(yè)主要使用以硅為基礎(chǔ)的集成電路。

　　1.實(shí)施軟件。

　　針對(duì)“電力之心”輸入與輸出響應(yīng)的數(shù)據(jù)對(duì)比要求，編制了綜合驗(yàn)證代碼。其編碼設(shè)計(jì)完全按照“電芯”時(shí)序的要求來(lái)實(shí)現(xiàn)。

　　依據(jù)可編程器件構(gòu)建測(cè)試平臺(tái)的設(shè)計(jì)思路，通過(guò)以下方式構(gòu)造功能測(cè)試平臺(tái)：利用可編程邏輯器件對(duì)輸入激勵(lì)的產(chǎn)生和輸出響應(yīng)進(jìn)行處理；ROM實(shí)現(xiàn)DSP核程序.控制寄存器參數(shù).脈壓系數(shù)和濾波系數(shù)；采用SRAM作片外緩存。

　　2.硬件實(shí)施。

　　按照功能測(cè)試平臺(tái)的實(shí)現(xiàn)框圖進(jìn)行了原理圖和PCB的設(shè)計(jì)，最終完成了一套能對(duì)“電芯”進(jìn)行功能測(cè)試的系統(tǒng)平臺(tái)。

　　可編程序邏輯設(shè)備分類：

　　1.固定邏輯裝置中的電路是永久的，它完成一種或一套功能——一旦制造完畢，就不能改變。

　　2.可編程邏輯裝置(PLD)是一種能為用戶提供多種邏輯功能的標(biāo)準(zhǔn)制件，其速度和電壓特性，而且這類裝置可以隨時(shí)更改，從而完成許多不同的功能。

　　芯片作為電子產(chǎn)品的核心部件，其性能越來(lái)越趨于精益求精，為保證芯片質(zhì)量，人們都采用了有效的測(cè)試技術(shù)對(duì)芯片進(jìn)行功能測(cè)試。晶片確認(rèn)，隨著設(shè)計(jì)復(fù)雜性的提高，工作量與作業(yè)難度成數(shù)量級(jí)的增加。驗(yàn)證師通過(guò)在設(shè)計(jì)工程上運(yùn)行復(fù)雜的模擬，以二進(jìn)制波形的方式把芯片產(chǎn)品規(guī)格描述成各種功能，處理復(fù)雜的狀態(tài)空間，并對(duì)其進(jìn)行錯(cuò)誤的檢測(cè)，是驗(yàn)證工程師面臨的最大挑戰(zhàn)。

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